Mellado, D.

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Refinado Por:
Autor:  Colman Lerner, J. E.
Tema:  TECNOLOGIA
Autor:  Sánchez, E. Y.

Resultados 1-1 de 1.

Vista previaFecha de publicaciónTítuloAutor(es)
1risk-analysis-technological.pdf.jpg2018Risk analysis of technological hazards: Simulation of scenarios and application of a local vulnerability indexSánchez, E. Y. ; Represa, S. ; Mellado, D. ; Balbi, K. B. ; Acquesta, Alejandro Dante ; Colman Lerner, J. E. ; Porta, A. A.