Buscar por Autor Sánchez, E. Y.
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| Vista previa | Fecha de publicación | Título | Autor(es) |
|---|---|---|---|
 | 2018 | Risk analysis of technological hazards: Simulation of scenarios and application of a local vulnerability index | Sánchez, E. Y. ; Represa, S. ; Mellado, D. ; Balbi, K. B. ; Acquesta, Alejandro Dante ; Colman Lerner, J. E. ; Porta, A. A. |